腦電性能測試儀SEEG100

概述

依據最新的 EEG 國際法規標準 IEC 80601-2-26:2019 所設計

精密電路設計，可輸出 1µV 微小訊號

9 信道自動(dòng)切換開(kāi)關(guān)可作個(gè)別信道的性能測試

內建 620kΩ / 4.7nF 輸出阻抗測試的 EEG 標準測試電路

可做為 EEG 訊號播放器，可播放 PhysioNet EDF、text、binary 格式的波形訊號

IEC 80601-2-26 小幫手可簡(jiǎn)化法規標準測試所需花費的人力與時(shí)間

提供軟件開(kāi)發(fā)工具包（Software Development Kit，SDK），用戶(hù)可自行開(kāi)發(fā)客制或全自動(dòng)化測試軟件

規格

參數規格

主輸出電壓精確度50 µVpp 或更高的振幅，精細度需在 ±1％ 內

主輸出電壓分辨率（DAC 分辨率）0.5µV

頻率/脈沖精確度±1%

脈沖間期/時(shí)間精確度±1ms

電阻精確度±1%

電容精確度±5%

精密 500:1 分壓器±0.2%

取樣率5kHz ± 0.1%

直流偏移（內部超級電容提供的固定電壓、無(wú)噪聲偏移）150mV ± 1%

直流偏移（細調，最多可包含 50μVpp 噪聲）設定 ±1% 或 ±3mV

電源供應USB +5V 直流電源（不需要再外加其他電源）0.5A（高功率模式）

環(huán)境15 ~ 30°C（理論值）

30 ~ 80% RH（理論值）

安全性

電磁兼容性（EMC）沒(méi)有適用的安全標準（最大內部電壓 12Vdc） 尚未進(jìn)行 EMC 測試。 符合 CE 標志，并有作 USB IC 的保護，及特殊的濾波器，以減少來(lái)自微處理器（8MHz）和 DC / DC 轉換器（200kHz）的噪聲。

腦電性能測試儀SEEG100